在工业生产过程中，粉尘污染是一个不容忽视的问题。特别是游离二氧化硅（SiO₂）的存在，它是一种常见的矿物成分，广泛存在于石英、砂岩等天然矿物中。长期暴露于含有高浓度游离二氧化硅的环境中，会对人体健康造成严重危害，尤其是引发矽肺病等职业病。因此，准确测定空气中的游离二氧化硅含量具有重要意义。

目前，测定游离二氧化硅的方法有多种，每种方法都有其特定的应用场景和技术特点。以下将介绍几种常用的测定方法：

1. X射线衍射法（XRD）

X射线衍射法是基于晶体物质对X射线的衍射现象来分析物质结构的一种技术。对于游离二氧化硅而言，由于其具有独特的晶体结构，在特定波长的X射线照射下会产生特有的衍射图谱。通过与标准样品的衍射图谱对比，可以定量分析样品中游离二氧化硅的含量。

优点：准确性高，能够精确区分不同类型的二氧化硅。

缺点：设备昂贵，操作复杂，需要专业人员进行维护和操作。

2. 红外光谱法（IR）

红外光谱法利用分子振动吸收特定波长红外光的特性来鉴定物质。游离二氧化硅在红外光谱上表现出特定的吸收峰，通过对这些特征峰的分析，可以确定样品中游离二氧化硅的存在及其含量。

优点：快速、简便，适合现场检测。

缺点：对于复杂混合物的解析能力有限，可能需要结合其他方法使用。

3. 热重分析法（TGA）

热重分析法通过测量材料在加热过程中的质量变化来研究其物理化学性质。游离二氧化硅在高温条件下会发生分解或相变，通过记录这一过程中的质量变化曲线，可以推算出样品中游离二氧化硅的大致含量。

优点：适用于多种形态的样品，无需复杂的前处理步骤。

缺点：分辨率较低，难以获得非常精确的结果。

4. 激光诱导击穿光谱法（LIBS）

激光诱导击穿光谱法是一种利用高能脉冲激光激发样品表面产生等离子体，并通过分析等离子体发射光谱来定性或定量检测元素的技术。对于游离二氧化硅而言，其主要成分硅和氧分别对应不同的发射谱线，通过分析这些谱线即可实现对游离二氧化硅的测定。

优点：检测速度快，灵敏度高，可实现原位在线监测。

缺点：仪器成本较高，且对环境条件有一定要求。

综上所述，虽然上述各种方法各有优劣，但在实际应用中往往需要根据具体需求选择合适的测定手段。随着科学技术的发展，未来可能会出现更加高效便捷的新技术来满足日益增长的安全防护需求。无论采用何种方式，确保工作环境安全始终是我们共同的目标。